<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rdf:RDF xmlns="http://purl.org/rss/1.0/" xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<channel rdf:about="https://rep.bntu.by/handle/data/152757">
<title>Материалы конференции по статьям</title>
<link>https://rep.bntu.by/handle/data/152757</link>
<description/>
<items>
<rdf:Seq>
<rdf:li rdf:resource="https://rep.bntu.by/handle/data/153170"/>
<rdf:li rdf:resource="https://rep.bntu.by/handle/data/153174"/>
<rdf:li rdf:resource="https://rep.bntu.by/handle/data/153171"/>
<rdf:li rdf:resource="https://rep.bntu.by/handle/data/153173"/>
</rdf:Seq>
</items>
<dc:date>2026-04-09T21:16:10Z</dc:date>
</channel>
<item rdf:about="https://rep.bntu.by/handle/data/153170">
<title>3D-печать нанообьектов</title>
<link>https://rep.bntu.by/handle/data/153170</link>
<description>3D-печать нанообьектов
Антонов, М. С.; Чижик, С. А.
Создание неорганических материалов с разработанными трехмерными наноструктурами – быстро развивающаяся область исследований и промышленного применения. В данной работе проведен анализ современных методов 3D-печати высококачественных наноструктур. И предложен новый метод с использованием атомно силового микроскопа и двухфотонной полимиризации для создания объектов из SiO2 с разрешением менее 200 нм и гибкой возможностью легирования редкоземельными элементами.
</description>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item rdf:about="https://rep.bntu.by/handle/data/153174">
<title>Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем</title>
<link>https://rep.bntu.by/handle/data/153174</link>
<description>Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем
Кудина, А. В.; Васильева, А. А.; Леонович, А. Н.; Габец, В. Л.
Современные методы диагностики ИС включают как автоматизированные системы, так и продвинутые технологии, которые обеспечивает создание сложных микросхем с минимальными дефектами.
</description>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item rdf:about="https://rep.bntu.by/handle/data/153171">
<title>Модифицирование поверхности ПЭТФ ТМ наноструктурированными двухслойными покрытиями</title>
<link>https://rep.bntu.by/handle/data/153171</link>
<description>Модифицирование поверхности ПЭТФ ТМ наноструктурированными двухслойными покрытиями
Баранова, А. С.; Мельникова, Г. Б.; Сапсалёв, Д. В.; Толстая, Т. Н.; Жумназар, Н. Н.; Чижик, С. А.; Корольков, И. В.; Здоровец, М. В.
Разработаны двухслойные покрытия ПЭИ, ПЭИ+ и ПФОДА для чувствительных слоев гибких датчиков на основе ПЭТФ ТМ. Методом атомно-силовой микроскопии изучены топография поверхности, морфологические характеристики модифицированных двухслойными покрытиями ПЭТФ ТМ.
</description>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item rdf:about="https://rep.bntu.by/handle/data/153173">
<title>Компенсация несоответствия показаний оптических параметров для неохлаждаемого микроболометра</title>
<link>https://rep.bntu.by/handle/data/153173</link>
<description>Компенсация несоответствия показаний оптических параметров для неохлаждаемого микроболометра
Климович, Т. А.; Жамойть, А. Е.; Занько, А. И.
Тепловая инфракрасная визуализация получила большую популярность в применении по всему миру. Микроболометры – это тепловые датчики, используемые для получения инфракрасных изображений. Для повышения их производительности часто требуются методы компенсации. Компенсация используется для уменьшения влияния ошибок квантования. Она может включать в себя использование фильтров, алгоритмов коррекции или других методов, которые помогают улучшить качество сигнала после квантования. Параметры, используемые в процедуре компенсации, относятся к процессу обработки сигналов и данных, особенно в контексте цифровой обработки сигналов.
</description>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
</rdf:RDF>
