https://rep.bntu.by/handle/data/164324 2026-06-27T03:17:26Z 2026-06-27T03:17:26Z Воробей, Р. И. Гусев, О. К. Жарин, А. Л. Мухуров, Н. И. Тявловский, А. К. Тявловский, К. Л. Дубаневич, А. В. https://rep.bntu.by/handle/data/164860 2026-03-16T07:53:48Z 2011-01-01T00:00:00Z

Методика оценки однородности параметров поверхности полупроводниковой структуры Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Дубаневич, А. В.

2011-01-01T00:00:00Z Ясинский, В. М. Смирнов, А. Г. Рыжевич, А. А. https://rep.bntu.by/handle/data/164857 2026-03-12T16:07:27Z 2011-01-01T00:00:00Z

Датчик поверхности для сканирующего ближнеполевого микроскопа Ясинский, В. М.; Смирнов, А. Г.; Рыжевич, А. А.

2011-01-01T00:00:00Z Шабанов, М. В. https://rep.bntu.by/handle/data/164854 2026-03-12T16:07:37Z 2011-01-01T00:00:00Z

Испытания программного обеспечения средств измерений Шабанов, М. В.

2011-01-01T00:00:00Z Трибулев, Н. В. Биденко, А. И. Волынцев, А. А. Кробка, Н. И. Черниченко, В. С. https://rep.bntu.by/handle/data/164851 2026-03-16T07:54:20Z 2011-01-01T00:00:00Z

Классификационная таблица оптико-физических схем гироскопов на волнах де Бройля Трибулев, Н. В.; Биденко, А. И.; Волынцев, А. А.; Кробка, Н. И.; Черниченко, В. С.

2011-01-01T00:00:00Z