https://rep.bntu.by/handle/data/164324 2026-04-22T08:12:58Z 2026-04-22T08:12:58Z Воробей, Р. И. Гусев, О. К. Жарин, А. Л. Мухуров, Н. И. Тявловский, А. К. Тявловский, К. Л. Дубаневич, А. В. https://rep.bntu.by/handle/data/164860 2026-03-16T07:53:48Z 2011-01-01T00:00:00Z

Методика оценки однородности параметров поверхности полупроводниковой структуры Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Дубаневич, А. В.

2011-01-01T00:00:00Z Трапашко, Г. А. https://rep.bntu.by/handle/data/164849 2026-03-12T16:07:04Z 2011-01-01T00:00:00Z

Задачи контроля критических размеров в технологических процессах микроэлектронного производства Трапашко, Г. А.

2011-01-01T00:00:00Z Шапарь, В. А. Кукареко, В. А. Шапарь, А. В. https://rep.bntu.by/handle/data/164855 2026-03-12T16:07:01Z 2011-01-01T00:00:00Z

Установка для исследования триботехнических характеристик материалов в агрессивных средах Шапарь, В. А.; Кукареко, В. А.; Шапарь, А. В.

2011-01-01T00:00:00Z Агейченко, А. С. https://rep.bntu.by/handle/data/164850 2026-03-12T16:07:14Z 2011-01-01T00:00:00Z

Построение системы совмещения степпера с учетом влияния хроматических аббераций Агейченко, А. С.

2011-01-01T00:00:00Z