<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Материалы конференции по статьям</title>
<link href="https://rep.bntu.by/handle/data/152757" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>https://rep.bntu.by/handle/data/152757</id>
<updated>2026-04-09T21:16:10Z</updated>
<dc:date>2026-04-09T21:16:10Z</dc:date>
<entry>
<title>3D-печать нанообьектов</title>
<link href="https://rep.bntu.by/handle/data/153170" rel="alternate"/>
<author>
<name>Антонов, М. С.</name>
</author>
<author>
<name>Чижик, С. А.</name>
</author>
<id>https://rep.bntu.by/handle/data/153170</id>
<updated>2025-02-05T16:06:55Z</updated>
<published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">3D-печать нанообьектов
Антонов, М. С.; Чижик, С. А.
Создание неорганических материалов с разработанными трехмерными наноструктурами – быстро развивающаяся область исследований и промышленного применения. В данной работе проведен анализ современных методов 3D-печати высококачественных наноструктур. И предложен новый метод с использованием атомно силового микроскопа и двухфотонной полимиризации для создания объектов из SiO2 с разрешением менее 200 нм и гибкой возможностью легирования редкоземельными элементами.
</summary>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем</title>
<link href="https://rep.bntu.by/handle/data/153174" rel="alternate"/>
<author>
<name>Кудина, А. В.</name>
</author>
<author>
<name>Васильева, А. А.</name>
</author>
<author>
<name>Леонович, А. Н.</name>
</author>
<author>
<name>Габец, В. Л.</name>
</author>
<id>https://rep.bntu.by/handle/data/153174</id>
<updated>2025-02-05T16:06:57Z</updated>
<published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем
Кудина, А. В.; Васильева, А. А.; Леонович, А. Н.; Габец, В. Л.
Современные методы диагностики ИС включают как автоматизированные системы, так и продвинутые технологии, которые обеспечивает создание сложных микросхем с минимальными дефектами.
</summary>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Модифицирование поверхности ПЭТФ ТМ наноструктурированными двухслойными покрытиями</title>
<link href="https://rep.bntu.by/handle/data/153171" rel="alternate"/>
<author>
<name>Баранова, А. С.</name>
</author>
<author>
<name>Мельникова, Г. Б.</name>
</author>
<author>
<name>Сапсалёв, Д. В.</name>
</author>
<author>
<name>Толстая, Т. Н.</name>
</author>
<author>
<name>Жумназар, Н. Н.</name>
</author>
<author>
<name>Чижик, С. А.</name>
</author>
<author>
<name>Корольков, И. В.</name>
</author>
<author>
<name>Здоровец, М. В.</name>
</author>
<id>https://rep.bntu.by/handle/data/153171</id>
<updated>2025-02-05T16:06:56Z</updated>
<published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Модифицирование поверхности ПЭТФ ТМ наноструктурированными двухслойными покрытиями
Баранова, А. С.; Мельникова, Г. Б.; Сапсалёв, Д. В.; Толстая, Т. Н.; Жумназар, Н. Н.; Чижик, С. А.; Корольков, И. В.; Здоровец, М. В.
Разработаны двухслойные покрытия ПЭИ, ПЭИ+ и ПФОДА для чувствительных слоев гибких датчиков на основе ПЭТФ ТМ. Методом атомно-силовой микроскопии изучены топография поверхности, морфологические характеристики модифицированных двухслойными покрытиями ПЭТФ ТМ.
</summary>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Компенсация несоответствия показаний оптических параметров для неохлаждаемого микроболометра</title>
<link href="https://rep.bntu.by/handle/data/153173" rel="alternate"/>
<author>
<name>Климович, Т. А.</name>
</author>
<author>
<name>Жамойть, А. Е.</name>
</author>
<author>
<name>Занько, А. И.</name>
</author>
<id>https://rep.bntu.by/handle/data/153173</id>
<updated>2025-02-05T16:06:57Z</updated>
<published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Компенсация несоответствия показаний оптических параметров для неохлаждаемого микроболометра
Климович, Т. А.; Жамойть, А. Е.; Занько, А. И.
Тепловая инфракрасная визуализация получила большую популярность в применении по всему миру. Микроболометры – это тепловые датчики, используемые для получения инфракрасных изображений. Для повышения их производительности часто требуются методы компенсации. Компенсация используется для уменьшения влияния ошибок квантования. Она может включать в себя использование фильтров, алгоритмов коррекции или других методов, которые помогают улучшить качество сигнала после квантования. Параметры, используемые в процедуре компенсации, относятся к процессу обработки сигналов и данных, особенно в контексте цифровой обработки сигналов.
</summary>
<dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
