В статье представлены результаты сравнительного исследования качества подложек из сплава АМГ-2, в том числе после обработки поверхностей алмазным наноточением. Неразрушающий контроль параметров поверхности реализован путем регистрации распределения работы выхода электрона (РВЭ) по контактной разности потенциалов с обработкой микропроцессорным измерительным преобразователем ...