| dc.contributor.author | Бойко, Б. Б. | ru |
| dc.contributor.author | Джилавдари, И. З. | ru |
| dc.contributor.author | Олефир, Г. И. | ru |
| dc.contributor.author | Петров, Н. С. | ru |
| dc.contributor.author | Чернявский, В. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Москва | ru |
| dc.date.accessioned | 2020-10-01T11:37:56Z | |
| dc.date.available | 2020-10-01T11:37:56Z | |
| dc.date.issued | 1980 | ru |
| dc.identifier.citation | Исследование нелинейных оптических свойств тонких поглощающих слоев вблизи предельного угла полного отражения = A Study of Nonlinear Optical Properties of Thin Absorbing Layers in the Vicinity of the Critical Angle of Total Reflection / Б. Б. Бойко [и др.] // Квантовая электроника. – 1980. – Т.7 № 1. – С. 105-109. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/79659 | |
| dc.description.abstract | В статье приводятся результаты экспериментального исследования нелинейных оптических свойств тонких поглощающих слоев. Получена зависимость отражательной способности поглощающего плоскопараллельного слоя от плотности энергии падающего излучения при различных толщинах слоя и углах падения. Показано, что вблизи предельного угла полного отражения коэффициент отражения тонких (порядка нескольких микрометров) поглощающих слоев может изменяться в довольно широких пределах (практически от 0 до 1). | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Советское радио | ru |
| dc.title | Исследование нелинейных оптических свойств тонких поглощающих слоев вблизи предельного угла полного отражения | ru |
| dc.title.alternative | A Study of Nonlinear Optical Properties of Thin Absorbing Layers in the Vicinity of the Critical Angle of Total Reflection | en |
| dc.type | Article | ru |
| local.description.annotation | Results are given of an experimental study into nonlinear optical properties of thin absorbing layers. A dependence is obtained of the reflectivity of the absorbing planeparallel layer on the incident radiant energy density for different layer thicknesses and incidence angles. It is shown that the reflection factor of the thin (in the order of a few microns) absorbing layers may vary within a fairly wide range (practically from 0 to 1) in the vicinity of the critical angle of total reflection. This result is due to the thermal mechanism of the refractive index nonlinearity in combination with the interference. | en |
