Show simple item record

dc.contributor.authorБанькова, Ж. Н.
dc.contributor.authorБирисен, Т. С.
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2020-06-12T11:47:09Z
dc.date.available2020-06-12T11:47:09Z
dc.date.issued2020
dc.identifier.citationБанькова, Ж. Н. Возможности спектрального анализа элементов УФ спектра в стали с помощью портативных оптико-эмиссионных спектрометров = Spectral analysis of UV-spectrum elements in steel using portable optical emission spectrometers / Ж. Н. Банькова, Т. С. Бирисен // Литье и металлургия. – 2020. – № 2. – С. 45-47.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/73627
dc.description.abstractМетод оптико-эмиссионной спектроскопии используют для определения массовых долей таких элементов, как углерод, кремний, марганец, фосфор, сера, хром, никель, медь, алюминий, молибден, ванадий, титан, мышьяк, олово, бор, кальций и др. Большинство аналитических линий анализируемых элементов находятся в области видимого света, но аналитические линии углерода, фосфора и серы – в области ультрафиолетового излучения. Ультрафиолетовое излучение (УФ излучение) – это электромагнитное излучение, занимающее спектральный диапазон между видимым и рентгеновским излучениями. Длины волн УФ излучения лежат в интервале от 10 до 400 нм. Область УФ излучения условно делится на ближнюю – от 400 до 200 нм; далекую – от 380 до 200 и вакуумную – от 200 до 10 нм. Конструкционные особенности строения оптической системы стационарных спектрометров позволяют определять массовые доли химических элементов, в том числе фосфор и серу, с достаточной точностью и достоверностью. В настоящей статье рассмотрены возможности определения массовых долей фосфора и серы, аналитические линии которых лежат в области ультрафиолетового излучения, с помощью портативных оптико-эмиссионных спектрометров.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleВозможности спектрального анализа элементов УФ спектра в стали с помощью портативных оптико-эмиссионных спектрометровru
dc.title.alternativeSpectral analysis of UV-spectrum elements in steel using portable optical emission spectrometersru
dc.typeArticleru
dc.identifier.doi10.21122/1683-6065-2020-2-45-47
local.description.annotationOptical emission spectroscopy is used to determine the mass fraction of elements such as carbon, silicon, manganese, phosphorus, sulfur, chromium, nickel, copper, aluminum, molybdenum, vanadium, titanium, arsenic, tin, boron, calcium, etc. Most of the analytical lines of the analyzed elements are located in the visible light spectrum, but the analytical lines of carbon, phosphorus and sulfur are located in the ultraviolet radiation spectrum. Ultraviolet radiation (UV radiation) is electromagnetic radiation that occupies the spectral range between visible and x - ray radiation. The wavelengths of UV radiation are in the range from 10 to 400 nm. The area of UV radiation is divided into: near - from 400 to 200 nm; far - from 380 to 200 nm; vacuum - from 200 to 10 nm. Structural particularities of the structure of the optical system of stationary spectrometers allow determining the mass fraction of chemical elements, including phosphorus and sulfur, with sufficient accuracy and reliability. This article discusses the possibility of determining the mass fractions of phosphorus and sulfur, the analytical lines of which lie in the area of ultraviolet radiation, using portable optical emission spectrometers.ru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record