Now showing items 1-1 of 1

    • Электронно-микроскопическое исследование структуры кристаллов 

      Юркевич, Н. П.; Кужир, П. Г.; Тофпенец, Р. Л. (БНТУ, 2004)
      В методических указаниях излагаются основы метода электронной микроскопии по изучению структуры кристаллов. Представлена методика анализа картин микродифракции кристаллов. Издание предназначено для студентов инженерно-технических специальностей всех видов обучения.
      2011-12-20