Browsing Материалы 13-й конференции. Том 2 by Author "Жарин, А. Л."
Now showing items 1-2 of 2
-
Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2015)Жарин, А. Л. Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 174.2016-03-04 -
Контроль качества исходных подложек, микроструктур и микросенсоров на основе визуализации поверхностного потенциала
Жарин, А. Л.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2015)Жарин, А. Л. Контроль качества исходных подложек, микроструктур и микросенсоров на основе визуализации поверхностного потенциала / А. Л. Жарин, А. В. Дубаневич // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 177.2016-03-04