Show simple item record

dc.contributor.authorЛисенков, Б. Н.ru
dc.contributor.authorГрицев, Н. В.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2018-02-01T07:58:50Z
dc.date.available2018-02-01T07:58:50Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.citationЛисенков, Б. Н. Коммутация испытательных сигналов в системах тестирования полупроводниковых приборов / Б. Н. Лисенков, Н. В. Грицев // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 60-62.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/37153
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleКоммутация испытательных сигналов в системах тестирования полупроводниковых приборовru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record