Show simple item record

dc.contributor.authorГундин, А. А.ru
dc.contributor.authorГундина, М. А.ru
dc.contributor.authorЧешкин, А. Н.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2016-05-24T13:35:14Z
dc.date.available2016-05-24T13:35:14Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationГундин, А. А. Обработка цифровых изображений при дефектоскопии поверхностей промышленных объектов = Processing of Digital Images of Industrial Object Surfaces during Non-Destructive Testing / А. А. Гундин, М. А. Гундина, А. Н. Чешкин // Наука и техника. – 2016. – № 3. - С. 225 - 232.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/23909
dc.description.abstractПриводятся современные подходы к обработке снимков, полученных промышленным оборудованием. Описаны примеры использования модификации пикселов в малых окрестностях, применения однородной обработки изображения посредством изменения уровня яркости, возможности комбинации нескольких изображений, пороговая обработка изображения. При обработке серии снимков металлической конструкции, содержащей микротрещины, к которой приложено некоторое усилие, определена разность двух таких изображений. Последняя представляет собой контур, выделяющий различие в изображениях. Анализ этого контура позволяет установить первоначальное направление распространения трещины в металле. При обработке изображения, имеющего области средней интенсивности, которые при простой бинаризации пропадают, сливаясь с фоном из-за весьма низкого перепада между краями, определяли пороговое значение бинаризации. Для этого выбирали алгоритм сбалансированного порогового отсечения гистограммы, основанный на следующем: «взвешиваются» две разные доли гистограммы; если одна «перевешивает», то из этой части гистограммы удаляется крайний столбик, и процедура повторяется. При большой величине порога может произойти разрыв контура (пропадают информативные пиксели), при малой – появляются помехи (неинформативные пиксели). Представлена реализация алгоритма нахождения контактных площадок на снимке полупроводникового кристалла. Получены алгоритмы морфологической обработки изображений промышленных образцов, позволяющие найти дефекты на поверхности полупроводников, производить фильтрацию, пороговую бинаризацию, предусматривающую применение алгоритма сбалансированного порогового отсечения гистограммы. Разработанные подходы могут использоваться для выделения контуров на снимках поверхностей продукции машиностроения и подготовки их как изображений промышленных образцов, соответствующих документации предприятия. Это позволяет удалять шум на рентгенограммах без внесения дополнительных искажений в обрабатываемое изображение, выделять дефекты сварных соединений на снимках.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.subjectДефектоскопияru
dc.subjectБинаризацияru
dc.subjectФильтрацияru
dc.subjectОбработка изображенийru
dc.titleОбработка цифровых изображений при дефектоскопии поверхностей промышленных объектовru
dc.title.alternativeProcessing of Digital Images of Industrial Object Surfaces during Non-Destructive Testingen
dc.typeArticleru
dc.relation.journalНаука и техникаru
dc.identifier.doi10.21122/2227-1031-2016-15-3-225-232


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record