Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий с помощью микроинтерферометра
| dc.contributor.author | Седельник, И. В. | ru |
| dc.contributor.author | Пачковская, Н. А. | ru |
| dc.contributor.author | Логвинович, А. А. | ru |
| dc.contributor.author | Минько, Д. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2022-10-24T11:18:46Z | |
| dc.date.available | 2022-10-24T11:18:46Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.identifier.citation | Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий с помощью микроинтерферометра / И. В. Седельник [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 6-й Международной студенческой научно-технической конференции, 24-26 апреля 2013 г. / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2013. – С. 352. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/121502 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий с помощью микроинтерферометра | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
