Now showing items 1-2 of 2

    • Cost of ownership model for probe card technology 

      Nenzi, Paolo; Kravets, Marta; Balucani, Marco (БНТУ, 2010)
      Nenzi, Paolo Cost of ownership model for probe card technology / Paolo Nenzi, Marta Kravets, Marco Balucani // Новые направления развития приборостроения : материалы 3-й Международной студенческой научно-технической конференции, 21-23 апреля 2010 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2010. - С. 306.
      2018-01-16
    • Reliability analysis of a new probe card technology 

      Nenzi, Paolo; Balucani, Marco (БНТУ, 2010)
      Nenzi, Paolo Reliability analysis of a new probe card technology / Paolo Nenzi, Marco Balucani // Новые направления развития приборостроения : материалы 3-й Международной студенческой научно-технической конференции, 21-23 апреля 2010 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2010. - С. 267.
      2018-01-15